非接触3D测量系统
Hyper QVWLI
Hyper QVWLI是QV配备白光干涉仪的复合型高精度3D测量系统
可根据WLI光学系统获取的3D数据进行三维表面形状分析/三维粗糙度分析
还可以根据3D数据,进行指定高度的尺寸测量和截面形状测量




不断进化的影像测量功能和先进的WLI光学镜头成就好的性能

软件
高性能和高效率测量的强力支持

选配软件

选件

测量示例


非接触3D测量系统
Hyper QVWLI
Hyper QVWLI是QV配备白光干涉仪的复合型高精度3D测量系统
可根据WLI光学系统获取的3D数据进行三维表面形状分析/三维粗糙度分析
还可以根据3D数据,进行指定高度的尺寸测量和截面形状测量




不断进化的影像测量功能和先进的WLI光学镜头成就好的性能

软件
高性能和高效率测量的强力支持

选配软件

选件

测量示例


1系列小型指针式指示表 1929A 1900A-10
7系列磁性台架 7010-10 7011-10 7012-10 7014-10
201系列快测外径规 DSG 201-101
3·4系列长行程大表盘型指针式指示表3109A-10 3058A-19 4046A
2系列标准型指针式指示表 2960A 2990A-10
7系列指示表台架7001-10 7002-10 7007-10
2系列标准型指针式指示表(指针可调型)2048A-10
7·547系列 厚度表547-315A 7315A
1系列 小型指针式指示表 1160A
7·547系列 厚度表547-301A 547-321A 547-401A 7301A
521系列 校表仪 521-103 UDT-103
170系列校表仪 UDT 170-102-12