NanoScan小光束狭缝扫描式激光光束轮廓分析仪NS2s-SI/3.5/1.8-STD

供货厂家
深圳市嘉士达精密仪器有限公司  
品牌
OPHIR
型号
NS2s-SI/3.5/1.8-STD
应用
狭缝扫描式激光光束轮廓分析仪
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联系人
徐小凤(先生)
电话
0755-21518810
手机
18820263964
询价邮件
sherryxu@jusdatest.com
发布日期
2023-12-13 11:07
编号
12715805
发布IP
113.116.51.189
区域
深圳仪器仪表
地址
西乡街道臣田社区宝民二路东方雅苑A100
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详细介绍

该NanoScan狭缝扫描式光束轮廓分析仪通过其硅探测器,jingque捕获和分析190nm - 1100nm的波长。该分析仪包括适合于小光束的狭缝尺寸、近实时数据捕获率、可选的功率测量功能等特征,且可在连续或kHz脉冲模式下工作,非常适合于对UV、VIS和NIR激光进行全面分析。

光束尺寸7µm至~2.3mm

功率级范围为~10nW至~10W

USB 2.0接口

包含NanoScan标准或专业软件

产品名称NanoScan 2s Si/3.5/1.8

传感器类型Silicon Photodetector

光谱范围190 to 1100 nm

狭缝尺寸1.8 µm

孔径尺寸3.5 mm

光束尺寸7 μm to 2.3 mm

扫描头尺寸83 mm

功率范围10 nW to 10 W

通信USB 2.0

订购信息:  NS2s-SI/3.5/1.8-STD Standard软件       PH00456

                    NS2s-Si/3.5/1.8-PRO Professional软件 PH00464

为什么不建议使用硅NanoScan进行1064nm光束测量?

硅探测器对>1000nm的近红外光非常透明。如果它用于测量这些光束,你经常会看到拖尾轮廓,因为信号衰减得不够快。这将导致错误的结果。我们建议使用锗,或者如果有足够的功率,使用这些波长的热电探测器



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