韩国XRF-2000镀层测厚仪

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Micro　Pioneer　XRF-2000系列荧光金属镀层测厚仪能提供金属镀层厚度的测量，同时可对电镀液进行分析，不单性能优越，而且价钱超值。只需数秒钟，便能非破坏性地得到准确的测量结果，甚至是多层镀层的样品也一样能胜任。全自动XYZ样品台，镭射自动对焦系统，十字线自动调整。超大/开放式的样品台，可测量较大的产品。是线路板，五金电镀，首饰，端子等行业的。可测量各类金属层、合金层厚度。是非破坏性测厚仪器的机型。　　可测元素范围：　　钛（Ti）–铀（U）　　可测量厚度范围：　　原子序22-25，0.1-0.8μm 　　26-40，0.05-35μm 　　43-52，0.1-100μm 　　72-82，0.05-5μm 　　X-射线管：油冷，超微细对焦　　高压：0-50KV（程控）　　准直器：　　固定种类大小：可选0.1，0.2，0.3，0.4，1X0.4mm 　　自动种类大小：可选0.1，0.2，0.3，0.4，0.05X0.4mm 　　电脑系统：IBM相容，17\"显示器　　综合性能：：镀层分析定性分析定量分析镀液分析　　镀层分析：可分析单层镀层，双层镀层，三层镀层，合金镀层。　　镀液分析：可分析镀液的主成份浓度（如镀镍药水的镍离子浓度，镀铜药水的铜离子浓度等），简单的核对方式，无需购买标准药液。　　定性定量分析：可定性分析20多种金属元素，并可定量分析成分含量。　　光谱对比功能：可将样品的光谱和标准件的光谱进行对比，可确定样品与标准件的差别，从而控制来料的纯度。　　统计功能：能够将测量结果进行系统分析统计，方便有效的控制品质。