测厚仪/涂层测厚仪

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KD-CM涂层测厚仪说明
概述
本仪器采用磁性测厚方法，可无损伤地检测磁性金属基铁（如：铁、钢、合金和硬磁性钢等）上非磁性覆层的厚度（如：锌、铝、铬、铜、橡胶、油漆等）。本仪器广泛地应用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。是材料保护专业必备的仪器。
特点
便携设计，手掌大小
采用高速的DSP芯片，具有快速的测量能力
人性化设计，简单操作。
在双用探头时自动识别铁基和非铁基材质，无需手动转换
两种校准方式，零点校准和二点校准
宽角度LCD液晶显示
公制和英制单位转换
具有电源欠电压提示
操作过程有蜂鸣声提示
具有自动关机功能
测量原理
磁性法
当测头与覆层接触时，测头与磁性金属基体构成一闭合磁路，由于非磁性覆层的存在，使磁路磁阻发生变化，通过测量其变化量，可测得其覆层的厚度。
技术参数
测量范围：0-1250um
工作电源：两节五号电池
测量精度误差：零点校准 ±（1.5+3%H）；二点校准±【（1%～3%H）】H+1.5
环境温度0-40℃
相对湿度≤85%
最小基体10*10mm
最小曲率凸5mm;凹5mm
最薄基体：0.4mm
重量：99克（含电池）
尺寸102mm*66mm*24mm

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