BTX-1智能半导体器件特性测量仪

BTX-1智能半导体器件特性测量仪
为了测量半导体分立器件特性由上海实博实业研制开发了本仪器。它将传统的“半导体特性测试仪”浓缩成一个插卡（测试卡）形式，将其插入计算机的扩展槽中，在软件的支持下，实现对半导体器件（晶体三极管、场效应管、可控硅元件、二极管等）快速测量，并可把结果存盘或打印。
　　测试卡充分利用电脑的软、硬件资源在电路设计上，以数字电路替代模拟电路组成阶梯信号发生器，并设置了自校准电路，提高了测量的准确性，用软件实现硬件的部分功能，降低硬件的成本。
　　还设计了将测量数据进行二次数学处理的软件，使得测量时不仅能在屏幕上显示晶体管的输出、输入曲线，并且能自动显示不同电流下的电流放大倍数、跨导、二极管的理想因子，β－Ic曲线等等。
　　工作电压：AC220V±10% 50Hz
　 　测量精度：≤5％
　　外形尺寸：350×280×80mm