X-4 显微熔点仪

发布日期 :2011-06-07 13:35 编号:831092 发布IP:114.97.77.170
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合肥密维光学仪器有限公司
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X-4 显微熔点仪
特点:单目,温度传感器无小数点,放大倍数40倍。测定物质的熔点。用于药物、化工、纺织、染料等晶体有机化合物之测定,显微镜观察。既可用毛细管法测定,又可用载玻片——盖玻片法(热台法)测定。
主要技术参数:
■熔点测量范围 室温至320℃
■测量重复性 ±1℃(在≤200℃时)   ±2℃(在200℃~300℃时)
■光学放大倍数 目镜 10X 物镜 4X

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