MINITEST720/730/740涂层测厚仪

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MINITEST 720/730/740涂层测厚仪
-创新的SIDSP（探头内部数字信号处理）技术提升了测量的性
-测量范围达15mm，可更换F、N或FN探头，供内置或外接探头使用
-FN探头自动识别F（铁磁性）或N（非磁性）基体，操作方便不易出错

SIDSP技术-全球最新技术，智能数字化的涂层测厚探头
模拟信号处理时代已成过去，数字信号处理将成为未来的趋势
MINITEST 720/730/740涂层测厚仪采用的SIDSP是什么？
SIDSP是由ElektrPhysik（简称EPK）研发的，的涂层测厚探头技术。EPK此项技术为涂层测厚领域的创新奠定了新标准。
SIDSP即探头内部数字信号处理，这项技术使探头在测量时，同时在探头内部将信号完全处理为数字形式。SIDSP探头完全依据世界技术生产。
MINITEST 720/730/740涂层测厚仪的SIDSP工作原理？
跟传统技术不同，SIDSP在探头顶部产生和控制激发信号，回传的信号经过32位数字转换和处理，带给您的涂层厚度值。此项的数字处理技术，同时应用在现代通讯技术（手机网络）方面，如数字滤波器，基带转换，平均值，随机分析，等等。此项技术能获得与模拟信号处理无可比拟的信号质量和度。厚度值通过探头电缆数字化传输到显示装置。
SIDSP探头与普通模拟探头相比，具有决定性的优势，为涂层测厚设定了一个新的标准。

MINITEST 720/730/740涂层测厚仪为什么选择SIDSP？
SIDSP探头具有极高的抗干扰性
任何与测量相关的信号，都由SIDSP在靠近探头顶部的位置进行处理。测量信号不会通过探头电缆传输时受到干扰，因为不再有测量信号的传输。探头电缆仅仅为探头供电，并传输数字化的厚度值到显示装置。即使您的测量工件需要特别长的电缆线也没问题，加长的电缆线同样具有极强的抗干扰能力。




MINITEST 720/730/740涂层测厚仪SIDSP-测量信号高稳定性
EPK的SIDSP探头具有极高的重现性。将探头放在同一测量点测量几次，每次您都可以得到基本一样的结果，再次证明了SIDSP探头的性能。






MINITEST 720/730/740涂层测厚仪高度的SIDSP探头特征曲线
在生产过程中，EPK的SIDSP探头要经过严格的校准。一般的模拟探头只会在特征曲线上选几个点来校准，但SIDSP探头不同：由于是全自动化过程，探头在50个点上进行校准，大大降低了特征曲线的偏离。因此特征曲线在整个量程范围内都十分精准，将测量错误降至最低。



MINITEST 720/730/740涂层测厚仪SIDSP探头对温度变化不敏感
在生产过程中