EL缺陷测试仪and组件测试仪and卧室组件测试仪

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SMT-A / SMT-B / SMT-F ：EL缺陷测试仪and组件测试仪and卧室组件测试仪
电池组件测试仪产品特点：　
该设备专门用于太阳能单晶硅、多晶硅、非晶硅电池组件的电性能测试。　
通过模拟太阳光谱光源，对电池组件的相关电参数进行测量。　
独有的校正装置，输入补偿参数，进行自动/手动温度补偿和光强度补偿，具备非接触式自动测温与温度修正功能。　
基于Windows的操作界面，测试软件人性化设计，记录并显示测试曲线（I-V曲线、P曲线）和测试参数（Voc、Isc、Pmax、Im、Vm、FF、EFF、Temp），测试结果语音提示，序列号自动生成，保存到指定文件夹。　
电池组件测试仪技术参数：　
型号规格：SMT-A SMT-B SMT-F　
辐照不均匀度：≤±2%（SMT-A） ≤±3%（SMT-B） ≤±2%（SMT-F）　
辐照不稳定度：≤±2%（SMT-A） ≤±3%（SMT-B） ≤±2%（SMT-F）　
测试结果一致性：≤±0.5%（SMT-A） ≤±1%（SMT-B） ≤±0.5%（SMT-F）　
电性能测试误差：≤±1%（SMT-A） ≤±2%（SMT-B） ≤±1%（SMT-F）　
单次闪光时间：10ms　
光谱范围：符合IEC60904-9要求（A级）　
辐照强度：100mW/cm2(调节范围70~120mW/cm2)　
有效测试面积：1200mm×2000mm　
有效测试范围：10W~300W　
测量电压：1V~10V(分辨率1mV)　
测量电流：100mA~20A(分辨率1mA)　
测试参数：Isc 、Voc 、Pmax 、Vm 、Im 、FF、 EFF 、Temp　
数据采集：含8000个数据采集点　
电池组件测试仪应用领域：专门用于太阳能单晶硅、多晶硅、非晶硅电池组件的电性能测试。　
　
联系人：陶小姐
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