二次靶

发布日期 :2010-08-06 15:55 编号:501643 发布IP:183.37.192.180
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深圳患唯计量技术开发有限公司
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产品说明


采用三维立体光路,实现划时代的创新,针对元素的检测,可靠性、抗干扰性、精度、检出限,有了革命性的突破,全面提升了产品性能。
1) 先进技术:
1、 二次靶技术:
二次靶技术:如图所示:图1a是从X光管出射的原级X射线。图1b是使用滤光片的出射谱。图1c为二次靶出射谱,很明显二次靶技术使散射背景很弱,而弱的散射背景使得样品出射谱的散射背景强度很低。

2、空间三维立体光路:根据偏振光的特性安排的空间立体光路。我们让原级X射线以45°入射角入射到二次靶上,二次靶上出射的散射 (反射)线再以45°角入射到样品。这样的空间三维立体光路起到一个除去二次靶材散射背景的作用,使散射背景大大降低。
3、Ux-800P应用了精心设计的滤光片,基本做到单色激发。
4、高管压X光管,结合偏振二次靶的作用,使Cd、Sb、Ba等元素的检出限大大降低。
谱图对比:图2和图3分别为传统EDXRF仪器和Ux-800P测塑胶样品的谱图的对比。从图2图3中不难看出,与传统的EDXRF Ux-220相比,Ux-800P的散射背景明显降低,各个待测有害元素特征峰的峰背比都有了显著的改善,尤其以Cd和Cr最为明显。
图2.传统EDXRF检测欧盟PE标样谱图
图3.偏振二次靶Ux-800P检测欧盟标样谱图


P3:解决产业六大难题:
1、解决高溴中的Pb、Hg检测,检测均下限低于20ppm,从图4可以看出,即使20ppm的Pb,也能可靠稳定的检测出来,并且线性相当不错。

图4.Ux-800P含检测10%Br的PE样品

2、 解决锡中的Cd检测,检测下限低于20ppm,图5是 环保焊锡中200ppm以下Cd的检测,使用传统的EDXRF几乎是不可能的,但采用Ux-800P,可以对焊锡中的20ppm的Cd进行稳定可靠的检测,完全可以满足RoHS要求。
图5.是 环保焊锡中200ppm以下Cd的检测



3、能对含Pb同时含As的样品进行准确检测,如图6 Ux-800P经过合适的配置,可以准确地检测As的含量,进而可以准确计算Pb的含量。

图6. Ux-800P检测含Pb同时含As的样品

4、 应对玩具指令中的八大重金属进行高精度检测,检测下限均达到10ppm(如图7)

图7. Ux-800P测试玩具八大重金属谱图

5、能对含有高含量Bi样品中的Pb进行准确检测;
6、能对含有很高的Ti的样品中的Cl进行准确检测;
以上几种是目前传统XRF仪器无法解决的难题,Ux-800P彻底解决了。而UX-800P功能远不止这些,它能广泛地应对各种环保指令包括RoHS、EN71、ASTM-F963、Reach等等。



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