美国XOS高精度X射线荧光技术(HD XRF)

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XOS公司将HD XRF技术从实验室推广到各种工作环境，包括生产车间、货运码头、仓库和零售货架等。如今，还搬到消费品供应链的各个环节，包括分析玩具、儿童用品、电子部件和其他日用消费品。HD Mobile™ 便携手持式分析仪可以在固定式与手持式分析之间轻松切换，并配有灵巧的自携箱。
高精度X射线荧光技术(HD XRF)具备 HDXRF® 前所未有的度，是一款设计精良、操作便捷灵活的便携式分析仪。

高精度X射线荧光技术(HD XRF)特性：
1.完全符合 CPSIA 和 RoHS 规定
2.同步分析涂层和基底材料
3.可靠的供审查的原始数据记录
4.定点分析配以高分辨率截图
5.手持和固定操作合为一体
6.增加检测次数，同时降低成本
7.使用方便的用户界面和数据管理符合 ASTM F2853-10 和 F2617 标准。

高精度X射线荧光技术(HD XRF)的技术至关重要
HDXRF 是一种元素分析技术，它采用获得专利的 DCC 光学透镜以加强对儿童用品检测的精准度。
HDXRF 的主要优势是可以分别对产品涂层和基材进行元素定量分析。多个 DCC 透镜截获来自X光管的X白光束，并选定几个不同能量的光束，聚焦成很强的束斑，打在被测样品表面。
HDXRF选择高低能量不同的单色激发束，使用户能分别定量测出涂层和基底材料中有毒元素的成份。
HDXRF采用单色激发束可消除荧光峰下的散射背景噪音，从而大大改善元素探测极限[参见下述图表]。这种技术采用聚焦束激发样品，可以形成一个准确且高度聚焦的 1mm 样品分析面积。该图表显示了 HDXRF 的基本构架，用于对玩具和儿童用品中的有毒元素进行检测。
产品来源：http://www.chem17.com/st322492/product_23521144.html