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纳米硅薄膜太阳能用高低温试验箱
纳米硅薄膜太阳能用高低温试验箱测试目的：确定组件于温度重复变化时,引起的疲劳和其它应力的热失效。
产品用途：太阳能电池模块的设计使用年限大约是20～30年，而可靠度试验是仿真陆上太阳光电模块(晶硅、非晶硅、薄膜、聚光型)的设计验证，让模块能够在一般气候下长期操作20年以上，规范要求太阳能电池需进行：Thermal cycle test(温度循环测试)、Humidity-freeze test(湿冷冻测试)、Damp Heat(湿热测试)，以确认太阳能电池能够承受高温高湿之后随级的零下温度影响，以及对于温度重复变化时引起的疲劳和热失效，另外确定太阳能电池能够抵抗湿气长期渗透之能力。

纳米硅薄膜太阳能用高低温试验箱
(IEC61215 , IEC61646 , UL1703，IEC62108 , IEEE1513，IEC61730 )

相关规范资料介绍：
硅晶太阳能:IEC61215、UL1703、GB9535
薄膜太阳能:IEC61646、GB18911
聚光太阳能:IEC62108、IEEE1513 humidity-freeze test(湿冷冻测试)

纳米硅薄膜太阳能用高低温试验箱技术规格：
产品型号：TH-容量
内箱尺寸：按客户要求外型尺寸：

纳米硅薄膜太阳能用高低温试验箱性能参数：
▲测试环境条件下：环境温度为+25℃、相对湿度≤85%、试验箱内无试样条件下
▲测试方法：GB/T 5170.2-1996温度试验设备/GB/T 5170.5-1996湿热试验设备（仅湿热型）
▲温度范围：负载-40℃→+85℃/（空载－70℃到150℃）
▲温度波动：±0.5℃
▲温度分布精度：±2.0℃
▲湿度范围：20%～98%R.H
▲湿度波动：±2.5%R.H.
▲湿度分布精度：±4.0%.

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