X射线膜厚测试仪(美国)

发布日期 :2014-01-06 15:36 编号:2022382 发布IP:121.34.19.169
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X射线博曼膜厚测试仪,俗称镀层膜厚测试仪,膜厚测试仪,X-RAY膜厚仪等,博曼膜厚仪特别适合于小的镀层测量,如端子,连接器,细小的金线,在五金,汽车配件.线路板.卫浴,等行业.也有杰出的表现.可测量.单层.双层,合金层等多种镀层!
半导体博曼(BOWMAN)膜厚测试仪可测量:单一镀层、二元合金层、三元合金层、双镀层,保证镀层厚度品质,减少电镀成本浪费,应用范围较广的标准型镀层厚度测量仪 分析:详述.元素范围铝13到铀92。.x射线激发能量50 W(50 kv和1 ma)钨靶射线管.探测器硅PIN检测器250 ev的分辨率或更高的分辨率.测量的分析层和元素5层(4层镀层+基材)和10种元素在每个镀层成分分析的同时多达25元素,深圳市金东霖科技有限公司是美国博曼X射线镀层膜厚测试仪中国区一级专业代理商,集销售、保养、校正(调试)及维修等专业服务一体化 ,让客户满意是我们金东霖科技始终的目标!

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