DSA8200回收

DSA8200回收

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DSA8200采样示波器
为最具挑战的系统设计提供信号高保真度
当前高速电路使得信号路径检定和BER分析的挑战性进一步提高。由于最高的
TDR带宽、最快速的S参数测量功能及全面支持光学标准测试，DSA8200数字串
行分析仪提供了完整的高速物理层测试平台。
DSA8200功能
最多4个真实差分通道
高带宽（50 GHz）时域反射仪
光学模块噪声低，光学灵敏度高，拥有消光比校准功能及宽波长。
IConnect? 信号完整性
串行数据网络分析 (SDNA)
串行数据链路分析 (SDLA)
远程采样头
DSA8200优点
利用真实的差分TDR激励信号准确地检测非线性设备，如放大器。
以12 ps 的入射级将阻抗不连续性分解至 1mm。
通过一个光学测试解决方案，满足8.5Gb/s - 40Gb/s所有主要标准。
利用集成的TDR和S参数测量减少由测试治具信号降级引起的测量错误。
通过一个仪器进行时域和频域分析来降低测试成本。准确地分析信号通路以预测信
号串扰和抖动，确保可靠的系统运行。
通过抖动、噪声和BER分析确定眼闭的准确原因。通过快速评估各种FE/DFE均衡设
置最大化接收器的眼睁时间。
通过将TDR头接近被测试设备来优化信号保真度和最小化探头、电缆及测试治具的影响。
泰克公司宣布推出新型DSA8200数字串行分析仪取样示波器、全新的远程取样电子模
块和增强型IConnect?软件，使其成为串行数据网络分析应用的理想解决方案。全新TDR
（时域反射技术）和电子模块是TDR测试技术20年来最重要的成果，及时地解决了高速
串行数据标准带来的更高要求和挑战。 数千兆串行标准的出现促使功率预算和时序容限
下降。因此，准确分析时域和频域中的信号路径和互连情况，对于全面了解当今高速串
行设计中信号损失和串音的影响至关重要。PCI Express、串行ATA、XAUI和Infiniband等业
界标准，逐渐开始要求使用S参数和阻抗测量来描述这些影响的特征，同时确保系统的互
操作性。借助提高2.5倍的TDR性能和新式自动化工具，新的DSA8200解决方案完全符合
串行数据网络分析要求。DSA8200代表最高的性能和最经济的解决方案，可针对当前和
各种新兴标准的1 Gb/s到12.5 Gb/s串行数据率，实现准确且可重复的