夏比投影仪冲击试样缺口投影仪

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产品说明：
CST-50型冲击试样缺口投影仪是为检查夏比V型或U型冲击试样缺口质量而设计、开发的一种专用光学仪器，与刻在投影屏上的冲击试样缺口标准样板图进行对比，以确定被检测的冲击试样缺口加工是否合格，对比直观，操作简单，效率高。是理化试验室的必备专用设备。
技术参数：
投影屏： 200×200mm
放大倍数： 50X
光源： 12V 100W（卤钨灯）
电源： 220V 50Hz 150W
外型尺寸： 515×224×603mm
重量： 约18Kg
质量保证：
设备在订货方现场正式验收合格后，才视为正式交货。设备质保期为正式交货之日起一年。在质保期内，供货方对设备出现各类故障及时免费维修服务。对非人为造成的各类零件损坏，及时免费更换。保修期外设备在使用过程中发生故障，供货方及时到订货方服务，积极协助订货方完成维修任务。