MCW-2010A型（涡流）涂层测厚仪MCW-2010A

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一、概述
MCW-2010A型（涡流）涂层测厚仪是采用抗干扰技术、测量精度高、数字显示、功耗低、内置探头全量程测量、机型小巧、操作简捷；且具有欠电指示、统计、系统/零点/两点校准功能，其性能已经达到国际同类仪器的先进水平。
二、产品性能
1、测量范围：　　0~1200um
2、测量误差：