荧光X线膜厚计

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特点：
●中文视窗操作测量系统
●解析度0．001um， 最小测量面积0．1mmΦ
●可测量合金层之厚度和组成比例
●可测量两层以上镀层之个别厚度
●藉由光谱分析可判定被测物之元素
●适用对象：1C导线架、封装业、PCB业、精密零
●件业、电镀业、电子业。