CST-50冲击试样缺口投影仪

发布日期 :2011-12-05 16:44 编号:1063450 发布IP:60.216.245.99
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济南时代新光仪器有限公司
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一、概述
随着国内工业技术的发展,越来越多的行业已经开始执行夏比V型缺口冲击试验方法,目前国内诸如锅炉压力容器、冶金和机械制造等行业已普遍采用夏比V型缺口冲击试验取代使用了几十年的梅式U型缺口冲击试验。对于夏比V型缺口冲击试验,由于试样V型缺口要求严格(试样缺口深2mm、呈45°角且试样缺口要求R0.25mm±0.025mm),故在整个试验过程中,试样的V型缺口加工是否合格成了关键问题,如果试样缺口的加工质量不合格,那么其试验的结果是不可信的,特别是R0.25mm缺口的微小变化(其公差带只有0.025mm),都会引起试验结果的巨大陡跳,尤其是在试验的临界值时,会引起产品的报废或合格两种截然相反的不同结局。为保证加工的夏比V型缺口合格,其缺口的加工质量检验是一个重要质量控制手段,目前用光学投影放大检查是唯一切实可行,并能保证检查质量的方法。
CST—50型冲击试样缺口投影仪是我们根据目前国内广大用户的实际需求和GB/T229—94《金属夏比缺口冲击试验方法》中对冲击试样缺口的要求而设计、开发的一种专用于检查夏比V型和U型冲击试样缺口加工质量的专用光学仪器,该仪器是利用光学投影方法将被测的冲击试样V或U型缺口轮廓放大投射到投影屏上,与投影屏上冲击试样V和U型缺口标准样板图比对,以确定被检测的冲击试样缺口加工是否合格,其优点是操作简便,检查对比直观,效率高。
总之,本投影仪是广大冶金、锅炉压力容器、车船和工程机械制造及科研等部门理化试验室的必备专用设备。
该仪器还可用于机械零件的外型轮廓、纺织物纤维、生物切片分析、工量刃具检验、仪表元件和半导体器件的投影检测。
二、工作原理
本投影仪光源发出的光线经聚光镜照到被测物,再经物镜将被照射物体放大的轮廓投射在投影屏上。根据实际需要,本仪器为单一投射照明,光源通过一系列光学元件投射在工作台上,再通过一系列光学元件将被测试样缺口轮廓清晰地投射到投影屏上。物体经二次放大和二次反射形成正像,在投影屏上所看到的图形与实际试样放置的方位一致。
三、主要参数
1、 投影屏直径 :180mm
2、工作台尺寸 :
方工作台尺寸:110×125mm
方工作台直径:90mm
工作台玻璃直径:70mm
3、工作台行程 :
纵向:±10mm
横向:±10mm
升降:±12mm
4、工作台转动范围: 0~360°
5、仪器放大倍率:50X
物镜放大倍率: 2.5X
投影物镜放大倍率:20x
6、 光源(卤钨灯):12V 100W
7、电源: 220V 50Hz
8、外形尺寸:515×224×603mm
9、重量: 18kg

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