X射线检测系统

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Vertex A系列功能强大，配置灵活，检测区域覆盖面积广（20’’×24’’）
可供选择的X光源（75kV,90kV,130kV,150kV）及探测器（2’’/4’’/6’’图像增强器或平板数字探测器）
Vertex A系列应用最新的Nexus 300软件及分析工具，既可实现直观的手动操作，同时亦能提供自动检测程序。Nexus 300图像处理包括：图像缺陷增强、伪彩色、边缘检测、BGA（面积、饱和度、空洞）、大面积分析，例如空焊率，等等。在生产环境下，可将条形码识别器与操作平台连接，实现产品的可追溯性。
自动缺陷增强ADE。通过软件过滤，可得到效果更佳的元件视图。
封装于故障安全互锁围栏（优于美国联邦及）。
系统基础参数
型号: A-75、A-90、A-130、A-150
光源：75kV、90kV、130 kV、150 kV、
焦点大小：45μ、5μ、6μ、5μ
空间分辨率：﹥10 lp/mm、﹥40 lp/mm、﹥40 lp/mm、﹥40 lp/mm
总放大倍率-标配摄像头：﹥24X、﹥130X、﹥70X、﹥60X
总放大倍率-高分辨率摄像头：﹥29X、﹥240X、﹥130X、﹥110X
最大视野（可视最大区域）：﹥2’’、 ﹥1.6’’、 ﹥2’’、 ﹥2’’
编程能力：
检测范围：20’’ ×24’’
最大基板尺寸：20¼’’ ×24¼’’
设备尺寸：70’’ ×50’’ ×62’’(D×W×H)
（2000mm×1422mm×1575mm）
离轴防护：可用1或2个轴夹具

VERTEX Series-A的设计具有人性化、灵活性的特点，X光平台亦坚固可靠，可轻松适用于任意一个检测任务。作为一套检测系统，它适用于生产线为批量生产进行的样品检测。其可编程的特性可显现自动检测，并且，一些应用软件还可实现完全无人化的检测。

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