4155C 半导体参数分析仪

4155C 4155C 4155C 半导体参数分析仪
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详细资料：

4155c 半导体参数分析仪
4155c半导体测试仪是agilent下一代精密半导体测试仪。4155c是描述器件的低成本、实验室级的参数测试仪。4155c低的电流、电压精度和内置的准静态cv测量能力提供了未来扩展的基础。41501b可扩展测量能力到1a/200v，还可以在4155c上增加低的噪声双脉冲发生器。 4155c提供了基于pc的参数分析和表征全套方案的环境。标准配置包括一个参数分析仪，agilent i/cv 3.0 lite 自动测试软件，运行windows xp 操作系统的pc。i/cv 3.0 lite 提供一个图形用户界面，具有强大的分析工具，探针驱动和自动测试工具。
特性
· 4155c提供4个内置的源/监控单元（mpsmus），两个电压源单元（vsus）和两个电压监控单元（ vmus） · 10 fa 和0.2 uv的测试精度可满足开发新的工艺技术和评价材料 · performs quasi-static capacitance measurements versus voltage measurements · 完成准静态的电容对电压测量 · 自动提取程序参数而不需要人工操作屏幕光标 · 用超低的smus测量泄漏特性。 · 用集成的脉冲发生器和选择开关自动完成器件表征。 · 用内置的应力测量模式完成晶片的可靠性测试 · 用图形用户界面实现“点击”测试 · windows环境提供图形数据分析能力 · 旋钮扫描功能可以快速检验探针是否接触正常。 · 待机模式消除外部电源的需要 · 触发模式可以同步ac/dc测试 · ibasic 用户功能可以绘图和分析数据。
求购/供应如下:
示波器：TDS3032B TDS1012 TDS2024B TDS3012B TPS2024 DPO7104 TDS5054B
频谱分析仪：8594E 8591E E4402B E4404B E4440A 8560E
网络分析仪：8711A 8752C 8753C 8753ES E5062A 8714ES R3767CH R3767CG
综合测试仪：CTS65 CMD60 E5515C 8921A 8920A 2945A CMU200
信号发生器：33250A E4432B 83525A 8657B SMU200A SML03 SMIQ06
数字万用表：3458A 34401A 34402A 34410A 8845A FLUKE189 FLUKE54200 34411A
天馈线测试仪：DS8000B N9330A S331A S331B S331D S331C S332A S332B S33AC S332D SA2500EX SA1700EX SA6000EX
蓝牙测试仪：MT8852B MT88220A MT8850A
功率计：437B E4416A EPM-441A WT210 E4418B
电源：66311B 66309B 66309D E3631A KEITHLER2303A
LCR电子测试仪：HP4287A HP4284A Aiglent4291B HP4263B HP4275A HP4278A Aiglent4278A

本公司长期：（ 收购 销售 维修 租赁）: