LGA FLASH 一拖四测试架

产品特点及性能参数：

※采用1拖4架构设计，一次可测试4颗LGA芯片,一台电脑可以连接多台这种1拖4的治具，达到一次测试多台的效果,效率倍增；
※IC与开关指示灯一一对应，IC好坏一目了然；
※大小兼容设计，只要换限位框，即可测试外形尺寸不同的LGA Flash IC；
※配不同的主控板，可实现芯邦，UT165，安国，SMI,NETWORK方案可互换！
※采用手动翻盖式结构，操作方便；上盖的压板采用特殊结构，下压平稳，保证IC的压力均匀，不移位；
※高精度的定位槽，保证LGA定位，生产效率高；
※测试寿命可达20万次以上，并且探针可更换，维修方便，成本低；整机24小时工作性能稳定可靠，是LGA经销商及U盘工厂好帮手！
※探针材料：铍铜(标准)；
※绝缘材料：FR-4、PPS等；
※最小可做到跳距Pitch=0.4mm(引脚中心到中心的距离）；
※交货快：最快一天内交货。

产品主要功能：
※对Flash进行清空及分类挑选。
※对NandFlash进行格式化，测试实际可以用容量。
※对Flash进行直接量产，提高U盘生产效率。

产品服务：
※三个月免费保修（人为损坏除外）。
※保修期外，免费维修，如果需换件，只收材料成本费。
※可以免费提供相关的技术支持。

定制服务：
※可以定制TF卡1拖4的夹具；
※可以定制测试Flash wafer晶圆探针台；
※可定制三合一开卡器；
※可定制基于SSD和基于U盘的LGA测试治具；
※提供基于U盘的1拖4 TSOP测试夹具（兴邦、安国、迈克微），更换SOCKET可以实现LGA与TSOP共用；
※可定制UDP一拖十六测试夹具；
※可提供FLASH全端测试解决方案；比如，基于编程器（烧录机）原理的烧录（低端格式化）和基于U盘的低级格式化解决方案；

相关术语：
SSD：即Solid State Drive的简称SSD，中文名称为：“固态硬盘”，用固态电子存储芯片阵列而制成的硬盘。
SSDA：即Solid State Drive Alliance的简称，中文名称为：“SSD联盟”。
LGA：即Land Grid Array的简称，中文名称为“触点阵列封装”，即在底面制作有阵列状态坦电极触点的封装。

UDP：又称“黑胶体”、“U盘模块”、“豆腐干/黑豆干”；UDP模块是采用PIP一体WAFER封装技术的U盘半成品模块，UDP模块＋外壳＝U盘；薄、轻、时尚；产品装配方便、简单，产品标准化，适合客户在此基础上做各种开模设计。