JD20 0.2μ立式光学计

发布日期 :2014-09-10 13:53 编号:2277059 发布IP:222.94.99.173
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南京卡普计量仪器有限公司
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详细介绍
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产品特点
1、采用腊屏技术,附加读数放大镜,视场亮度匀称,像质清晰。
2、仪器测量精度高,数据稳定可靠,对于小尺寸精密零件的检测方便快捷。
3、仪器结构设计紧凑,外形尺寸小巧,便于运输。

产品用途
1、投影立式光学计是一种精密光学机械端度计量仪器。仪器利用标准量块与被测件相比较的方法来测量零件的外形尺寸,是工厂计量室、车间检定站或制造量具、工具与精密零件车间常用的精密仪器之一。
2、典型测量对象:检定量块、柱形量规、样板工件的厚度、外螺纹的中径、圆柱形和球形工件的直径。

性能参数
测量范围(mm) 0~180
最小分划值 0.2μm
分划板分划范围 ±100个分度
示值误差 (0.05+ΔL/400) μm 其中ΔL — 比较测量时的量程(μm)
示值稳定性 0.02μm
测量力 1.20N±0.2N
分划线像的微调范围 ±5个分度
每个分划的视见宽度 1.7 mm
测量轴与测帽内径配合的外径尺寸 ф6g6
测帽内径配合尺寸 ф6H7
外形尺寸(mm) 320×230×820
仪器重量 30 kg
工作台
七筋工作台:用于检定厚量块和工件
球筋工作台:用于检定薄量块和工件
光面工作台:用于测量球体直径
量块移动架:用于承放和移动标准和被检量块
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