CMI700铜厚测试仪

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CMI760(PCB专用铜厚测试仪)
牛津仪器测厚仪器CMI 760专为满足印刷电路板行业铜厚测量和质量控制的需求而设计。
CMI 760可用于测量表面铜和穿孔内铜厚度。这款高扩展性的台式测厚仪系统能采用微电阻和电涡
流两种方法来达到对表面铜和穿孔内铜厚度准确和的测量。CMI 760台式测量系统具有非常高的多
功能性和可扩展性，对多种探头的兼容使其满足了包括表面铜、穿孔内铜和微孔内铜厚度的测量、以及
孔内铜质量测试的多种应用需求。同时CMI 760具有先进的统计功能用于测试数据的整理分析。
CMI 760配置包括：
--CMI 760主机
--SRP-4探头
--SRP-4探头替换用探针模块（1个）
--NIST认证的校验用标准片
选配配件：
--ETP探头
--TRP探头
--SRG软件
SRP-4面铜探头测试技术参数：
--铜厚测量范围：
--化学铜：10 μin – 500 μin (0.25 μm – 12.7 μm)
--电镀铜：0.1 mil – 6 mil (2.5 μm – 152 μm)
--线形铜可测试线宽范围：8 mil – 250 mil (203 μm – 6350 μm)
--准确度：±1% (±0.1 μm)参考标准片
--度：化学铜：标准差0.2 %；电镀铜：标准差0.5 %
--分辨率：0.01 mils ≥ 1 mil, 0.001 mils