离线式AOI检测仪TOP V8

发布日期 :2010-05-06 10:07 编号:391111 发布IP:116.30.137.86
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深圳市托普科实业有限公司
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产品名称:离线式自动光学检测仪TOP V8 ----
产品规格:TOP V8 最小检测0402元件

AOI自动光学检测仪。该仪器是利用光学方法,采用权值成像数据分析原理,用来检测SMT工艺中的锡膏缺陷、零件缺陷和焊点缺陷。测量时,将待测PCB置于光学镜头下方,逐个采集每个焊盘或零件的图像,并对图像进行连续的数字化处理分析,然后与预存的“标准”进行比较分析进而作出缺陷结论。
AOI的实施目标:
最终品质:通常置于SMT生产线的最末端,用为检查SMT之的的产品缺陷;
过程控制:分别置于印刷机、贴片机之后,用来检查SMT工序缺陷并反馈数据。
AOI的的理:
AOI应用了光学原理为采集数据、应用统计学原理来分析数据并将数据数字化、应用图像比对原理将摄取图像怀“标准”图像进行运算比对而得出检测结论。

视觉识别系统
判别方法:权值成像数据差异分析、彩色成像比对原理
摄相机:采用CCD彩色摄相机,分辨率达20微米/点
光源:采用RGB环形LED结构光源
图像处理速度:处理0402元件少于15毫秒,每画面处理时间少于185毫秒
检测内容:锡膏缺陷,包括有无、偏斜、少锡、多锡、断路、短路、污染等;零件缺陷,包括缺件、偏移、歪斜、立碑、侧立、翻件、极性反、错件、破损等;焊点缺陷,包括少锡、多锡、连锡等

软件系统
操作系统:标准为MS Windows 2000 server,同时支持MS Windows 2003 server、MS Windows XP
图形识别控制系统:采用统计外形建模,自动建立标准图像、识别数据及误差阀值;采用图像化编程,自带标准元件库,能根据元件形状选择标准自动生成检测框,自动定位,CAD自动导入,编程快捷
MARK点识别:系统可选用2-4个常用MARK点,MARK点识别速度在0.6秒以内

机械系统
PCB尺寸:25mm/25mm-430mm/320mm
PCB厚度:0.5mm-2.5mm
PCB翘曲度:<2mm(有夹具辅助矫正变形
零件高度:<25mm
最小识别零件:0402元件
X、Y平台:采用交流电机伺服系统,定位精度在25微米以内,移动速度最快700mm/sec

控制系统
采用工控电脑,P4双核2.0G或以上配置
采用19"液晶宽频显示器

设备参数
外形尺寸:宽850mm/深920mm/高1270mm
重量:约350Kg
电源:交流220V±10%,额定功率600W,自带UPS
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