薄膜静电检测标准 ESD静电放电检测 第三方检测机构

发布日期 :2023-12-09 01:56 编号:12699625 发布IP:119.123.201.4
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薄膜产生静电的原因:宏观原因,薄膜生产过程中,由于大量托辊、橡胶辊、金属辊的存在,导致绝缘的膜料大量摩擦,产生达十几万伏的高静电,严重影响产品质量与生产安全,因此在分切、复卷等应用中,须消除静电;微观原因,根据原子物理理论,电中性时物质处于电平衡状态,产生电子的得失,使物质失去电平衡,产生静电现象。

薄膜静电检测方法:

测定薄膜的抗静电有2种方法:

(1)测定薄膜的表面电阻;

表面电阻率性能等级电荷衰减时间(T 1/2)性能等级;10的11次方.

优CDT良CDT中CDT差CDT用表面电阻仪测试,表明电阻越大,抗静电效果就越差,z少要达到10的12次方欧姆.

ESD_27.jpg


(2)测定薄膜表层电荷的半衰期。

在实验室条件下,以电晕放电形式使塑料薄膜带电后,其静电半衰期的测试方法。本标准适用于塑料薄膜,其他绝缘材料制成的薄膜也可参照采用。


检测标准

检测标准检查内容
GB/T 16578.1-2008塑料薄膜和薄片耐撕裂性能的测定第1部分:裤形撕裂法
DIN 5510轨道交通工具材料防火性能测试
GB/T 20672-2006硬质泡沫塑料在规定负荷和温度条件下压缩蠕变的测定
GB/T 15048-1994硬质泡沫塑料压缩蠕变试验方法
GB/T 20197-2006降解塑料的定义、分类、标志和降解性能要求
GB/T 1410-2006固体绝缘材料体积电阻率和表面电阻率试验方法
GB/T 7141-2008塑料热老化试验方法
GB/T 2577-2005玻璃纤维增强塑料树脂含量实验方法



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