电子及电气元件高低温低气压检验方法
标准介绍:
本标准旨在规定电子及电气元件在高低温低气压环境下的检验方法,以评估其在极端气候条件下的可靠性和稳定性。该标准适用于各类电子及电气元件,包括但不限于集成电路、电阻、电容、电感、继电器等。
测试方法:
热冲击测试:将样品置于不同温度的热冲击箱中进行循环热冲击,通过观察样品的外观、性能和电气特性的变化来评估其耐热性。 低温冲击测试:将样品置于恒温低温槽中进行循环低温冲击处理,以评估样品在低温环境下的耐寒性和延展性。 低压测试:将样品置于低气压环境中,通过调节气压和观察样品的反应来评估其在低气压条件下的可靠性。具体测试条件:
热冲击测试:温度范围为-40℃至+125℃,热冲击时间为30分钟,循环次数为100次。
低温冲击测试:低温范围为-60℃至-40℃,低温冲击时间为15分钟,循环次数为50次。
低压测试:气压范围为20kPa至101kPa,降压时间为30分钟,保持低压状态时间为60分钟,恢复常压时间为15分钟,循环次数为10次。
样品要求:
样品应符合相关guojibiaozhun或行业标准的要求,且具有完整的外包装和标识。 样品应提供详细的技术参数和性能指标。 样品应保证没有明显的表面损伤或变形。检测流程:
接收样品并对样品信息进行登记。 对样品进行外观检查和尺寸测量,排除不合格样品。 根据测试要求,将合格的样品置于相应的测试设备中。 按照设定的测试条件进行测试,记录测试数据。 对测试结果进行分析和评估,生成测试报告。 将测试报告发送给客户,并提供相应的解决方案和建议。项目:
热冲击测试 | 放入热冲击箱中进行循环热冲击 | -40℃至+125℃,30分钟,100次循环 |
低温冲击测试 | 放入低温槽中进行循环低温冲击 | -60℃至-40℃,15分钟,50次循环 |
低压测试 | 置于低气压环境中进行测试 | 20kPa至101kPa,降压30分钟,低压保持60分钟,恢复常压15分钟,10次循环 |
在进行电子及电气元件的高低温低气压检验时,我们本公司拥有先进的测试设备和经验丰富的技术团队,能够为客户提供专业、准确的检测服务。通过热冲击、低温冲击和低压测试,我们能够全面评估样品在极端环境下的可靠性和稳定性,为客户提供参考依据,帮助客户正确选择合适的电子及电气元件。