环境可靠性测试-温度冲击试验

发布日期 :2024-04-26 14:13 编号:12676519 发布IP:119.136.114.247
供货厂家
深圳市泰斯汀检测认证技术服务有限公司 [第1年] 级别:2  
报价
电议
联系人
刘工(先生)业务经理
手机
13189722676
区域
深圳环境检测服务
地址
​深圳市龙华区民治街道新牛社区工业东路锦湖大厦C栋203室-R02
在线咨询:
点击这里给我发消息
让卖家联系我
详细介绍
手机版链接:https://m.trustexporter.com/cz12676519.htm

1.温度冲击概述

冷热冲击试验箱(也叫温度冲击试验箱)是用来测试材料结构或复合材料,在瞬间下经较高温及较低温的连续环境下所能忍受的程度,藉以在较短时

间内试验其因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害,确认产品的品质,适用的对象包括电子电器零组

件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑胶等行业及*工业、*、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分

子材料之物理牲变化。

2.温度冲击试验标准

GB/T2423.22-2012试验N:温度变化

GB-T10592-2008高低温试验箱技术条件

GJB150.3-1986*设备环境试验方法--高温试验

GJB360A-96电子及电气元件试验方法

2.1温度冲击试验的参数

性能指标

温度范围

A:-20C~200°CB:-40℃~200CC:-60℃~200℃

温度误差

±3℃

温度波动

高温室及低温室均±2℃/±0.5℃(恒温时)

样品区承重

10kg

30kg

50kg

60kg

控制系统

控制器

进口LED数显微电脑集成控制器

精度范围

设定精度:温度0.1℃,指示精度:温度0.1℃

制冷系统

德国进口谷轮半封闭水式压缩机组

循环系统

耐温低噪声空调型电机多叶式离心风轮

温度转换时间

≤15s

温度恢复时间

≤5min

温度冲击方法

垂直两箱法/垂直三箱法

3.温度冲击应用范围

3.温度冲击应用范围

高低温冲击试验箱用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑胶等行业,*工业、**、兵工业、BGA、PCB基

扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害,可确

认产品的品质,从精密的IC到重机械的组件,都会用到,是各领域对产品测试的**的一项测试箱。


公司新闻
我们的其他产品
您可能喜欢
可靠性测试环境可靠性测试产品可靠性测试
 
相关可靠性测试产品