SEM扫描电镜检测 微观结构分析

扫描电镜原理:

扫描电镜利用高能量电子束轰击样品表面，激发出样品表面的各种物理信号，再利用不同的信号探测器接受物理信号转换成图像信息，可对陶瓷、金属、粉末、塑料等样品进行形貌观察和成分分析。

扫描电镜检测项目：

SEM：形貌观察，利用背散射电子（BEI）和二次电子（SEI）来成像。

EDS：成分分析（半定量），通过特征X-RAY获取样品表面的成分信息。

样品要求：

1.试样为不同大小的固体（块状、薄膜、颗粒），并可在真空中直接进行观察。

2.试样应具有良好的导电性能，不导电的试样，其表面一般需要蒸涂一层金属导电膜

扫描电子显微镜的应用和用途

扫描电子显微镜的应用非常广泛，从金属学研究、矿物学研究、环境科学到微纳米科技等领域，都有其的应用。以下是一些主要的扫描电子显微镜的用途：

1. 表面形貌观察：SEM的用途是观察和分析物质表面的形貌。SEM图像可以揭示材料表面的微小结构，包括表面颗粒的大小、形状和间距等。

2. 元素分析：SEM配备的能谱仪（EDS）可以分析样品中各种元素的分布和含量。通过观察不同区域的元素分布，可以推断出材料的成分和可能的制备过程。

3. 微米和纳米尺度研究：SEM在纳米科技中起着至关重要的作用,它可以提供高分辨率的图像，显示纳米级别结构的细节。

4. 失效分析：SEM扫描电镜检测在电子工业、汽车工业和其他高科技产业中的失效分析中具有广泛应用。它可以揭示材料失效的原因，例如断裂表面上的微小结构。

5. 环境科学：SEM扫描电镜检测被广泛应用于土壤、水样和其他环境样本的研究。它可以揭示土壤颗粒的形状、大小和分布，以及可能的污染物。

6. 生物医学：SEM在生物学和医学研究中具有广泛的应用，可以揭示细胞表面的结构和化学成分，以及组织形态学的细节。