JTAG信号完整性测试，JTAG电源完整性测试
如上图所示，TAP 控制器的内部状态机一共 16 个状态，关于各个状态具体含义可查阅 IEEE1149.1 手册。TAP 控制器的基本功能是产生 BSR 和指令寄存器正常工作所需要的时钟和控制信号，其主要功能有以下几点：
提供信号将指令装入指令寄存器。
提供信号将输入数据从 TDI 管脚移入内部寄存器、把输出数据从内部寄存器移出到 TDO 管脚。
执行相应功能，如捕获、移位和更新数据等。
指令寄存器是用来存储需要解释执行的指令的，IEEE 1149.1 标准规定了 JTAG 兼容器件必须要具备的指令：
BYPASS：用单一单元旁路寄存器传送数据，缩短 JTAG 链上不必要的扫描链路。
EXTEST：将已知值(存在 BSR)驱动到芯片针脚上。
SAMPLE/PRELOAD：将捕获到的芯片针脚值装入 BSR。
除了必备的指令外，IEEE 1149.1 标准还规定了如下可选的指令：
IDCODE：将 IDCODES 寄存器中的数据移出。
INTEST：将已知值(存在 BSR)驱动到芯片核心逻辑上。
RUNBIST：当 TAP 进入测试运行空闲状态时，芯片进行自检。