NANDFlash 器件性能测试 眼图测试 抖动测试 时序测试 电源纹波测试

发布日期 :2023-12-15 15:07 编号:12850385 发布IP:45.251.21.202
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NAND Flash 的数据是以bit的方式保存在存储单元(memory cell),一般来说,一个单元中只能存储一个bit。这些单元以8个或者16个为单位,连成bit line,形成所谓的byte(x8)/word(x16),这就是NAND Device的位宽。这些Line会再组成页(page),以所用的samsumg的256M x 8 Bit K9F2G08R0A芯片为例:每页2112Bytes(2kbyte(Main Area)+64byte(Spare Area)),空闲区通常被用于ECC、耗损均衡(wear leveling)和其它软件开销功能,尽管它在物理上与其它页并没有区别。每64个页形成一个块(block 128kB)。具体一片flash上有多少个块视需要所定。

NAND flash以页为单位读写数据,而以块为单位擦除数据。按照这样的组织方式可以形成所谓的三类地址:
Column Address:Starting Address of the Register. 翻成中文为列地址,地址的低8位
Page Address :页地址
Block Address :块地址
对于NAND Flash来讲,地址和命令只能在I/O[7:0]上传递,数据宽度是8位。

北京淼森波信息技术有限公司,是一家技术服务型公司,即为科研院校及企事业单位,中小型企业,初创企业提供硬件开发配套服务和硬件检测服务。主要提供开放实验室,产品代测服务并出测试报告。公司可通过眼图测试,抖动测试,时序测试,电源纹波测试等等一系列测试详细分析NAND Flash器件有关性能。



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