AM-8000 是优可测白光干涉3D形貌测量系统的高端机型，在 AM-7000 基础型之上强化了智能操控与平台能力，主打"亚纳米级精度 + 自动对焦调平 + 支持在线检测系统。基于白光低相干干涉原理——两列频率相同、相位差恒定、振动方向一致的相干光源相遇产生干涉，干涉条纹亮度峰值之间的差即为高度差。
| 测量原理 | 白光干涉（VSI 垂直扫描 + PSI 相移扫描） |
| 最高精度 | 0.03nm；显示分辨率 0.001nm |
| RMS 重复性 | 最高 0.002nm（AM-500N 测量头） |
| 扫描机构 | 闭环反馈精密压电陶瓷（PZT） |
| 扫描范围 | 最高 5000μm（AM-230R）；AM-230X/AM-500N 为 400μm |
| 最大扫描速度 | 400μm/s（AM-230R/X）；AM-500N 为 200μm/s |
| 相机帧率 | 169~3200Hz（230万像素）/ 77~2000Hz（500万像素） |
| 可测反射率 | 0.02%~（低反射率高透明样品亦可测） |
| 镜头配置 | 1X/2.5X/5X/5XL/10X/10XL/20X/23X/50X/100X/115X，最高 NA 达 0.8 |
| 角度特性 | 光滑面最高 53°，局部剖面倾角可达 90° |
| XY 平台行程 | 最高可达 300×300mm；Z 轴行程最高 350mm |
| 工作环境 | zuijia工作温度 18-22℃ |
1. 快——业内lingxian的采集与运算速度
采用业内首创 SST（Sub-sampling Technology）+ GAT（GPU Accelerate Technology） 算法，借助 GPU 并行处理（3000个核心、超10万亿次/秒浮点运算），可瞬间完成最高 500万点云采集。平均扫描时间 8 秒，仅为同类产品的四分之一左右
2. 稳——独创隔振与稳定机构
独创低重心机构、内置气浮缓冲机构，隔振稳定性提升 2.7 倍，5Hz 以上水平与纵向隔振均超 90%
3. 智——智能操控降低门槛
PreciTrack 条纹自动对焦技术：自动对焦 + 自动找干涉条纹，效率提升 8 倍
EquiDrive 自动调平技术（行业首创）：调平角最大 ±10°，效率提升 7 倍
All in One 一键控制器：操作时间节省 50%
对焦曲线功能（行业首创）、ROI 自动提取/屏蔽、循环测量、批量报告导出
4. 大——超大行程与样品支持
4 自由度直驱电控平台，对比 AM-7000 平台行程提升 3 倍、负载能力提升 2.5 倍、定位精度提升 50%、移动拼接速度提升 30%，重复定位精度 ±1μm
可测参数：面粗糙度、线粗糙度、台阶高度、三维形貌、平面度、非球面 K 值、曲率半径、体积、面积等数十种分析功能，符合 ISO、GB/T、DIN、NF、JIS 等全球标准。
典型应用行业：
精密光学：微透镜粗糙度与面型检测
半导体：晶圆粗糙度、超光滑表面粗糙度、先进封装、非球面K值计算、陶瓷基板
3C：手机盖板粗糙度、潜望镜（1x长焦镜头）、手机开关平面度
医疗器械：微流控芯片、植入体、人工晶状体
微纳加工：MEMS 器件、激光加工、纳米压印
新能源：铜箔/铝箔粗糙度、钙钛矿、光伏
汽车：HUD玻璃、车灯微阵列、齿轮
该系列已获 德国红点奖（reddot winner 2025） 及多项quanwei认证