HP4191A射频阻抗分析仪

发布日期 :2013-08-07 15:58 编号:1814697 发布IP:221.225.159.227
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HP4191A射频阻抗分析仪
产品简介
  主要用途   测试材料的阻抗Z,导纳Y,电感L,电阻R,介电损耗D,品质因数   射频阻抗计量器具检定系统   VerificationSchemeofRF   ImpedanceMeasuringInstruments JJG2011-87   代替:高频阻抗量值传递系统   射频阻抗计量器具检定系统   本检定系统适用于射(高)频集总参数阻抗计量器具(即检测20kHz-1GHz频段的R,L,C元件和材料电磁特性所有物仪器设备和量具、标准件),规定了射频(习惯上也称高频)集总参数阻抗量的量值溯源途径、传递程序及计量器具的检定方法。   一、计量基准器具   1、高频集总参数阻抗的国家计量基准器具是指用于复现和保存20kHz-1000GHz高频阻抗量值(包括电介质材料的复数介电常数和软磁材料的复数导磁率)的计量设备和量具。   2、射(高)频集总参数阻抗计量基准器具包括:   2.1空气介质同轴线阻抗基准,其阻抗量值由同轴线尺寸和材料电磁特性经理论计算求得。它用以校准按反射系数测量原理设计的高频阻抗精密测量装置。空气介质同轴线也是微波阻抗国家基准,本检定系统移用它,有利于射(高)频、微波阻抗量值的统一。在(1-1000)MHz频段,其技术指标为:   反射系数模值|г|:1.000±0.002;相角:±180°±0.5°。   2.2高频阻高频阻抗精密测量装置,它是利用从美国引进的HP4191A高频阻抗分析仪,经过准确度论证分析,保证高频集总参数阻抗量的以下计量工作性能:   频率:(1-1000)MHz   反射系数模值|г|:1.000±(0.003-0.007)   相角θ:±180°±0.5°;   阻抗模值|Z|:1Ω-10kΩ±(0.5-10)%   电容C:10pF-100nF±(0.2-10)%;   电感L:10nH-100μH±(0.2-10)%   损耗:tgδ(D)0.001-0.5±<(0.002-0.05)   二、高频集总参数阻抗标准   3、集总参数阻抗标准包括:   3.1高频阻抗标准件50Ω,0Ω,0S。它们由国家基准通过直接比对法传递量值,技术特性如下:   50Ω:|г|≤0.0025;0Ω:残余阻抗小于2mΩ;0S:边缘电容值0.080pF。   这些标准件用以校准按电压电流比原理设计的高频阻抗分析仪、高频LCR表等通用高频阻抗测量仪器(校准中还需使用直流以和低频阻抗标准伯)。并由50Ω阻抗件组成模拟损耗件校准Q值、tgδ值等标准设备。   3.2高频、低频阻抗分析仪。这些是市售商品高准确度阻抗测量仪器,也用作计量标准设备,用以定标低准确度的阻抗标准量具。其技术指标为:   频率:20kHz-1000MHz;   阻抗|Z|:1Ω-10kΩ±(1-
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