全自动快速比表面及孔径分析仪（二氧化硅）

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全自动快速比表面及孔径分析仪（二氧化硅）性能简介：
测试方法： 静态容量法
特征简列：
◆ BET比表面、外比表面、孔容孔径、孔面积、微孔分析等完
备的数据报告；

◆ 具有国内领先独立的高精度饱和蒸汽压（P0）测试站；
◆ 具有的全自动液氮面伺服保持系统；
◆ 具有国内外领先的测试、脱气完毕自动恢复常压功能；
◆ 先进的智能自检流程，智能判断样品管是否安装，试管夹套
是否拧紧；
◆ 具有国内外领先的样品预处理普通模式和分子置换模式两种
模式；
◆ 的分压点控制机制，可按设定要求对重点孔径段进行精
细分析；
◆ 清晰形象的图形化控制界面，并可在界面上进行控制操作；
◆ 具有国内外领先的液氮杯防意外“安全下降”智能控制机制；
◆ 超强的稳定性，即使意外断电、断线，亦不会丢失当前数据
，且实验可恢复继续进行；
◆ 强大的实验报告数据库化管理功能；
◆ 全程自动化智能化运行，亲和的语音操作提示；
◆ 软件界面自定义风格转换；
全自动快速比表面及孔径分析仪（二氧化硅）理论与报告内容：
；
全自动快速比表面及孔径分析仪（二氧化硅）精度： 测试精度高、重现性好。
重复性误差小于±2%；
测试范围：比表面0.01m2/g以上，孔径0.35-400nm；样品类型:粉
末,颗粒,纤维及片状材料等可装入样品管的材料。
供应全自动快速比表面及孔径分析仪（二氧化硅）分析站数量：具有2个样品分
析站，1个P0测试站，2个样品脱气站；2个分析站具有独立的气路
与压力传感器，支持同时进行不同样品不
同过程的测试；
P0测试：具有独立的饱和蒸汽压（P0）测试站，保证分压测试的高
准确性；
供应全自动快速比表面及孔径分析仪（二氧化硅）样品预处理： 主机自带一体
式脱气装置，同时处理样品数量：2；两路脱气站具有独立温控，并
具有独立定时功能，可支持与测试同步进
行的不同温度与不同时间的样品脱气处理；
样品预处理模式：具有国内唯一的“普通加热抽真空分子扩散模式”
和“分子置换模式”两种可选功能；分子置换模式相对分子扩散模式
效率提高1倍以上，可节省一半以上
的预处理时间，解决以往静态法样品制备时间长的问题；
全自动快速比表面及孔径分析仪（二氧化硅）效率： 智能投气量控制，中小吸
附量样品2-3min/1个分压点，中大吸附量样品3-5min/1个