TESA二维测高仪

发布日期 :2011-03-07 13:31 编号:267612 发布IP:113.97.111.40
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二维测高仪(手动型)TESA M+H TESA MICRO-HITE
TESA测高仪是一台独立电源的测高仪。它适用于测量外表面、内表面、台阶、 深度和间距的尺寸,它还适用于测量形状和位置误差,例如垂直度和直线度。
TESA测高仪的功能特点:
TESA测高仪是一台独立电源的测高仪。它适用于测量外表面、内表面、台阶、 深度和间距的尺寸,它还适用于测量形状和位置误差,例如垂直度和直线度。
本测高仪是一个模组化设计系统,故用户可根据使用要求,选购所需要的部分。
操作者能借助内装电子泵产生的气垫,轻快地使测高仪在平面上移动。
被测值即刻在控制台上显示、无需操作者作费时的人为运算。
可作1维测量、2维测量、角度测量。
可编制和执行1维或2维测量程序,包括公差和统计计算(X、CP、CPK、等)
可存储99个测量程序,每个程式可64个参数,共可存储3000个测量结果。

技术描述
性能指标
1、二维测高仪技术资料:
型 号 测量显示范围 最大误差
MICRO-HITE   600    615mm (2+3L)um
MICRO-HITE   900    920mm (2+3L)um
测量不确定度(2+3L)毫米(L单位米)
重复性+2s-2s小于等于2um
用TESA IG-13测头(No.07.60140)时,垂直度和直线度的最大测量误差:(正向测量和侧向测量时):3um
控制台上显示的解析度:0.0005/0.001/0.01/0.1/1mm
允许测头移动速度:300mm/s
取样时测力1.6N正负0.25N
介面RS232
长度标准采用光栅。
为了保证仪器精度长期不变,测量头的自动装置和导轨系统是相互分开的悬挂式。
不论测高度,还是测垂直度、直线度,对系统误差均进行修正,从而提高了测量精度。
可在内置打印机上打印,也可输出到外接打印机在A4纸上打印。
测圆表面时,可自动搜索到转折点。
测头直径值自动补偿,即可作补偿测头直径值的测量。
测量时也可表示链式尺寸。
可显示变动量从而用作平行度误差等的测量。
测量值可直角坐标值显示,也可极坐标值显示。
检测后,可以逐一对存储的测量结果进行检查,以检查有无粗大差错。
可作坐标原点平移、坐标旋转,从而建立要求的坐标系。
可以设置理论点(虚点)。
由在一圆周上均匀的几个实际圆测量,计算它们的回归圆直径,回归圆的圆心位置。
使用IG-13测头,可以测垂直度、直线度,测量结果可打印曲线,可显示实际垂直度的最小
二乘直线的直线度误差。
对测量文件可进行检查修改、删除、复制。
可提供统计分析软件。
具有系统"自测"检查功能。


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