TEMP OUT寄存器(参见表16)提供了对内部温度测量的访问。设置DIN = Ox0A00以请求该寄存器的内容。屏蔽掉上面的四位，然后将剩下的12位二进制数转换成一个等价的十进制数，减去1278，乘以0.47，然后ado 25将这个数字转换成°C。这种格式的示例见表17。注意，这种内部温度测量提供了条件变化的指示器，而不是包装外部条件的**测量。
自检功能对核心传感器内部的MEMS结构施加静电力，使结构以模拟其对重力或线性加速度的响应的方式移动。中提供了一个可观察响应加速度计的输出可以作为整个信号链功能操作的验证。MSC CTRL寄存器(表29)为使用此功能提供了两种不同的选项:manual(用户命令)和automatic(在启动/重置恢复期间)。
手动自检控制是对静电力的开/关控制。设置MSC CTRL[8] = 1为打开，设置MSC CTRL[8] = 0为关闭。对于正常操作，它将处于关闭状态，但这个控制位提供了一个机会在任何时候激活它，因此系统处理器可以对响应应用程序相关的通过/失败标准。当MSC CTRL 101 = 1时，自动自检进程在上电过程中运行。这运行ADIS16209通过开/关状态进行自检，同时观察加速度计响应的差异。这个过程的*后是比较每个加速度计的微分响应，内部通过/失败限制，并将结果报告给STATUSI51。一旦ADIS16209完成了它的启动过程，使用DIN = 0x3C00作为SPI输入命令(地址0x3C的STATUS)， STATUS可以用于SPI驱动的读取。
启动过程中的线性运动、VDD斜坡速率/波形和设备倾斜会给开/关电平带来不确定性，在某些情况下，会导致STATUS[5](结果= 0x0020)的错误故障报告。而通过/失败限制的选择包含了大多数条件。错误的失败仍然是可能的
当出现自检故障指示(STATUS 20x0020)时，使用以下流程测试基本功能。这个过程假定电源电压稳定，零运动。
设置AVG CNT= 0x0000和SMPL PRD= 0x0008，以优化自检转换期间的响应时间，同时保持ADIS 16209处于低功耗模式。在这种配置中，自检响应将类似于截止频率为50 Hz的单极低通滤波器的阶跃响应。
读取XACCL OUT和YACCL_OUT。
设置MSCCTRL8 = 1。
延迟> 20毫秒，这提供了50 Hz滤波器(内部ADIS16209)至少6个时间常数来确定
读取XACCL OUT和YACCL OUT
计算测量的差异:
