英国真尚有_微米级光栅尺AE0x尺寸测量

英国真尚有_光栅尺 | 微米级光栅尺 | AE0X

高精度位移检测

AE0X微米级光栅尺设计用于测量和检查工程物体的位移、尺寸、跳动、表面轮廓和变形。

主要特点：
◇ 0.1 µm 分辨率
◇ 高±2 µm 精度
◇ 测量范围从 3 到 55 mm
◇ 可应用范围广，对被测物本身无限制（低反射率、镜面、透明……都不影响）
◇ 测量的创新技术
◇ 增量编码器信号的仿真

AE0X微米级光栅尺特点：

（1）、0.1 µm 分辨率
（2）、高±2 µm 精度
（3）、测量范围从 3 到 55 mm
（4）、可应用范围广，对被测物本身无限制（低反射率、镜面、透明……都不影响）
（5）、测量的创新技术
（6）、增量编码器信号的仿真