BGA152测试座双面弹一拖二SSD接口测试座2256K主控

发布日期 :2019-02-20 14:30 编号:4136116 发布IP:116.24.21.95
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深圳市鸿怡电子有限公司  
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BGA152测试座 翻盖双面弹一拖二转SSD接口测试座 2256K主控 厂家

SSD测试夹具,SM2256K主控,BGA152转DIP48一拖二测试治具。一块测试板+两个BGA152测试座。!(此款免焊接,Socket直接通过定位螺丝锁紧在测试板上)


BGA152翻盖双面弹一拖二测试座

(此款免焊接,Socket直接通过定位螺丝锁紧在测试板上)


      BGA152翻盖弹片一拖二测试座是我公司为了FLASH行 业研发的低成本解决方案,翻盖操作取换芯片简单,大批量测试时减少对测试员工手的伤害!成为最高性价比的测试座,该产品采用弓形弹片结构,这种结构加上进 口铍 铜镀金有良好的伸缩性能,特殊的月牙形针头,更可以做到日本等品牌测试座做不到重要的特点:我们的可以有球无球残球均可测试!而其他品牌只能测试新的有球 的芯片。

 产品简介

产品用途:编程座、测试座,对BGA152的IC芯片进行测试、读取数据

适用封装:BGA152、BGA132 引脚间距1.0mm

测试座:BGA152/132-1.0

特别说明:暂时只能持TLC等级的FLASH,支持8CE以下的芯片 

产品特点

1. 可以测试8CE的BGA152/132的FLASH,除此之外更加适合大批量测试BGA152的客户

2.它与测试板的接触是直接pin to pin的接触,采用的双头弓形弹片结构,不需要焊在测试板上面,测试座通过双面有弹性的pin针直接顶在焊盘上面,接触稳定,例如说更换2246EN的测试板,只需要把测试座四周的螺丝取掉,锁在需要的测试板上面就可以了

 

SM2256K主控

 规格尺寸

型号:BGA152/132-1.0

引脚间距(mm):1.0

脚位:88

适配芯片尺寸:12*18mm 或 14*18mm  可更换限位框,买前告知芯片尺寸。


 


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