XRD测试_XRD检测_X射线衍射仪测试服务

发布日期 :2017-09-25 10:54 编号:4573380 发布IP:113.65.28.27
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 原理

X射线衍射分析(X-ray diffraction,简称XRD),是利用晶体形成的X射线衍射,对物质进行内部原

子在空间分布状况的结构分析方法。

仪器技术参数

小角衍射最小角可以达到0.4度,主要测量介孔材料和其他高分子复合材料。广角衍射:最低角度可以

达到5度,可以接收到小于10度的衍射峰。

(1)测量精度:角度重现性±0.0001°;测角仪半径≥200mm,测角圆直径可连续变

(2)最小步长0.0001°;角度范围(2θ):-110~168°;温度范围:室温~900℃;

(3)最大输出:3KW;稳定性:±0.01%;管电压:20~60kV(1kV/1step);管电流:10~60mA。 

送样要求

固体粉末:均匀干燥,粒度小于70um(过200目),质量不少于100 mg;

块体、金属及薄膜样品:需加工出一平整的表面,尺寸约为20mm×10mm×2mm

应用领域

物相分析,可以对物质的组成及物相进行表征分析.

定性、定量分析,通过精修可对物质的各组分进行的定量分析。

高温原位分析,通过高温原位可以研究温度对物质晶型转变的影响。

常见适用标准

通用标准和非通用标准都适用。

 专业、高效、精准、高性价比是广州化联质量检测技术有限公司的服务宗旨。


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